EEPROM 保护密码历史记录本身不会影响仪器实时性能，但极端频繁的密码 / EEPROM 写入操作会带来微小间接影响；正常使用下可忽略。
一、什么是 “保护密码历史记录”
存于 EEPROM，记录密码修改、校准解锁 / 锁定、EEPROM 写保护触发等事件(时间戳、次数、状态)。
由固件后台自动写入，不参与输出 / 测量 / 控制环路。
二、对性能的直接影响：无
✅ 输出性能：电压 / 电流精度、纹波、响应速度、动态特性不变。
✅ 测量功能：读数精度、稳定性、带宽不受影响。
✅ 保护机制：OVP/OCP/OTP 阈值与触发逻辑不变。
✅ 控制响应：SCPI 命令执行、前面板操作无延迟。
✅ 安全权限：仅限制校准 / EEPROM 写入权限，不影响正常使用。
三、间接影响(仅极端频繁操作)
EEPROM 写入耗时（1–10 ms / 次）频繁改密码 / 反复解锁锁定，会累积微小写入耗时;日常操作可忽略。
EEPROM 寿命耗尽（长期极端场景）工业级 EEPROM 典型寿命10 万–100 万次;仅记录密码事件，远达不到寿命上限。
固件日志占用（可忽略）历史记录占 EEPROM 极小空间(KB 级)，不影响配置 / 校准数据存储。
四、典型场景影响
日常使用（极少改密码）：无任何可感知影响。
调试 / 校准（偶尔解锁）：影响 **<1 ms / 次 **，可忽略。
极端测试（每秒多次改密码）：轻微响应延迟;非设计正常工况。
五、维护建议
正常使用无需顾虑;避免无意义频繁修改密码。
定期备份校准与配置数据，降低 EEPROM 写入频率。
