Keysight 双向直流电源（N6705/E3630 等）没有一条专门 SCPI 命令叫 “查询校准常数是否损坏”；也没有直接返回 “好 / 坏” 的校准数据健康位。
但你可以通过三类 SCPI + 自检 + 校验和报错，间接、可靠地判断 EEPROM 里的校准常数是否损坏。下面给你可直接上机的命令和判断逻辑。
一、先分清概念(非常关键)
EEPROM 保护密码（:DATA:LOG:PASS）：保护的是用户配置 / 日志区，不保护校准常数。
校准保护密码（:CAL:SEC:PASS）：保护的才是EEPROM 中的校准常数区。
“校准常数损坏” = 校准区 EEPROM 比特翻转、校验和错误、数据读不出 / 不一致。
二、最直接：开机自检 + 读取错误状态(SCPI)
1. 读取仪器错误队列(必做)
scpi
:SYST:ERR?
正常返回：0."No error"
校准 / EEPROM 损坏常见报错：
-241."EEPROM checksum error" (EEPROM 校验和错 = 数据损坏)
501."Calibration data corrupt"(校准数据损坏)
610."Internal memory fault"
只要读出上面任意一条，校准常数已经损坏。
2. 运行完整自检(覆盖 EEPROM / 校准区)
scpi
*TST?
返回 0 = 自检通过(EEPROM / 校准区正常)
返回非 0 = 自检失败，包含 EEPROM / 校准常数异常
三、读取校准区 “是否可读 / 是否全零”(SCPI)
你可以直接读校准常数，看是否正常返回数值、还是全零 / 乱码：
1. 查校准保护是否解锁(能读校准区)
scpi
:CAL:SEC:STAT? ; 0=保护关闭(可读写)，1=锁定
要读校准常数，必须先解锁：
scpi
:CAL:SEC:STAT 0."你的校准密码"
2. 读取关键校准常数(示例，不同型号略有差异)
scpi
:CAL:VOLT:GAIN? ; 电压增益校准系数
:CAL:VOLT:OFFS? ; 电压偏移
:CAL:CURR:GAIN? ; 电流增益
:CAL:CURR:OFFS? ; 电流偏移
判断标准：
返回正常浮点数(如 1.0002. -0.0015)→ 正常
返回 0、9.9E+37、乱码、或报错 → 校准常数已损坏
四、查询 EEPROM 整体健康状态(部分型号支持)
scpi
:SYST:MEM:STAT?
返回 0 = 正常
返回 1 = EEPROM 故障(含校准区损坏)
五、前面板快速确认(不用 SCPI)
开机看屏幕：
出现 EE CHECKSUM / EEPROM ERROR → 校准区损坏
正常开机无报错 → 基本正常
