如何用 SCPI 判断 Keysight 双向直流电源「校准报告 / 内部校准记录是否完整」
先给核心结论：Keysight 仪器内部没有存储完整 PDF 校准报告，也没有一条 SCPI 直接告诉你 “报告完整 / 不完整”;但可以通过 SCPI 读取 6 项关键校准完整性特征，逐项校验，就能判定内部校准记录是否完整、是否被篡改、是否缺项、是否失效。
下面给你可直接照搬的 SCPI 命令 + 完整性判定标准。
一、必须查询的 6 项校准完整性 SCPI 指令
依次下发，全部正常才有资格判定「校准记录完整」
scpi
*IDN? ; 型号、序列号、固件(校准绑定基础信息)
SYST:CAL:DATE? ; 上次校准日期
SYST:CAL:TIME? ; 上次校准时间
CAL:COUNT? ; 校准次数
SYST:CAL:STAT? ; 校准有效状态
SYST:ERR? ; 是否存在校准校验/EEPROM错误
二、每项的「完整 / 不完整」判定标准
1. *IDN? 检查
正常：返回完整 型号 + SN + 固件版本
不完整：SN 为空、型号乱码、固件版本缺失 → 校准记录无效
2. SYST:CAL:DATE? / SYST:CAL:TIME?
完整：返回合法日期 如 2025.11.20、时间 10.30.00
不完整：
返回 0.0.0
返回 全零、乱码、空值→ 说明从未校准 或 校准记录被清空
3. CAL:COUNT? 校准次数
完整：次数 ≥1 且稳步递增
不完整：
次数为 0
突然从几十变回 0 → EEPROM 被重置、记录丢失
4. SYST:CAL:STAT? 校准状态
完整：返回 1(校准有效)
不完整：返回 0(校准失效、记录损坏、未完成校准流程)
5. SYST:ERR? 错误队列
反复读到 0."No error" 才算干净;如果出现以下错误 → 校准记录不完整 / 损坏：
-310 校验和错误
-311 NVM 写入失败
-282 EEPROM 写保护
含 EEPROM / NVM / Cal 相关报错
三、完整判定结论规则(直接套用)
满足全部 → 校准记录完整有效
*IDN? 型号、SN、固件齐全无乱码
校准日期 / 时间非全零、合法
校准次数 ≥1
校准状态 SYST:CAL:STAT? = 1
无 EEPROM / 校验和 / 校准相关错误
任意一条不满足 → 校准报告内部记录不完整、失效、被清空或 EEPROM 损坏
四、补充限制(关键点)
SCPI 无法读取 PDF 校准报告文件本身只能校验仪器内部固化的校准元数据完整性，不能读取外部纸质 / 电子报告。
无法查到校准机构、校准人员这些不存仪器里，自然无法用 SCPI 校验。
EEPROM 坏块、频繁掉电，会导致校准记录残缺，上面这套 SCPI 可以直接检测出来。
五、给你一条可直接批量执行的完整性检测 SCPI 序列
直接复制到 VIC / BenchVue / Python 即可：
scpi
*CLS
*IDN?
SYST:CAL:DATE?
SYST:CAL:TIME?
CAL:COUNT?
SYST:CAL:STAT?
SYST:ERR?
