核心结论
无法通过SCPI命令直接查询EEPROM的写入次数统计，因为电源的固件和SCPI协议均不对外暴露此类底层物理信息。但这并不意味着无法做出判断——通过监控失败现象来推断，是目前最可行的方法。
一、当写入次数达到上限时会发生什么?
EEPROM并非在达到某个精确次数后突然完全失效，而是性能逐渐劣化。根据EEPROM的物理特性，达到寿命上限时的典型表现如下：
技术说明：EEPROM的额定写入次数(如100万次)是在特定温度条件下保证的，温度越高，可承受的写入次数越少。
二、通过SCPI命令监控失败信号(核心方法)
虽然没有直接查询写入次数的命令，但可以通过以下SCPI命令捕获EEPROM已出现异常的明确信号：
1. 查询错误队列(最关键的命令)
scpi
SYSTem:ERRor?
正常响应：+0."No error"
异常响应（表明EEPROM可能已损坏或达到寿命上限）：
2. 主动测试写入并验证
scpi
# 1. 保存当前状态到存储位置1(这会触发一次EEPROM写入)
*SAV 1
# 2. 立即查询错误队列，确认写入是否成功
SYST:ERR?
# 3. 尝试回读刚保存的状态
*RCL 1
# 4. 再次查询错误队列
SYST:ERR?
判断逻辑：
写入后出错 → EEPROM可能无法正常写入
回读后出错或读取的参数与保存的不一致 → 数据可能已损坏
3. 写入后立即断电重启验证(更严格的测试)
scpi
# 保存配置到非易失性存储位置0(自动上电恢复位置)
*SAV 0
# 断电重启电源后，检查配置是否仍然存在
# 可通过读取某个特定设置值来验证
三、区分“达到寿命上限”与“硬件故障”
在排查问题时，需要区分以下两种不同性质的问题：
官方警告：Keysight手册中明确指出，*SAV命令会触发一次非易失性存储器的写入周期，而这类存储器有写入次数上限。反复执行写入操作的程序最终可能超过这个上限并导致存储器失效。
四、实操建议
1. 建立定期监控脚本
通过自动化脚本周期性查询错误队列，记录首次出现存储相关错误的时间点，以便评估趋势。
2. 减少不必要的写入操作
避免在程序循环中频繁调用 *SAV 命令
仅在配置发生重要变更时才执行保存操作
考虑使用 *RCL 读取已有配置，而不是反复写入
3. 查阅具体型号的规格书
不同型号的EEPROM额定写入次数可能不同(工业级通常为10万次或100万次)。可通过以下方式获取：
查阅对应型号的《技术数据表》或《用户手册》
联系Keysight技术支持获取具体规格
4. 硬件层面的最终确认方法
如果软件监控持续出现错误，且设备行为异常，可考虑：
使用逻辑分析仪捕获EEPROM通信总线(I2C/SPI)波形，分析时序是否正确
将EEPROM芯片取下，使用编程器直接读取内容，确认芯片是否损坏
