电参数测试：参数分析仪能够测量半导体器件的电流-电压（I-V）特性、电容-电压（C-V）特性以及其他关键参数，这对于评估器件的性能至关重要。例如，通过I-V测试可以确定器件的导通电阻、击穿电压等特性。
可靠性测试：参数分析仪用于测试半导体器件在不同温度和偏置条件下的稳定性，以评估其长期可靠性。这包括了对器件进行高温反向偏置（HTGB）测试和高温操作寿命（HTOL）测试。
动态性能测试：参数分析仪可以对器件的动态性能进行测试，如频率响应、增益和相位特性，这对于高频应用尤为重要。
小信号参数测试：在设计阶段，参数分析仪用于测量器件的小信号参数，如跨导、互导和极间电容等，这些参数对于模拟电路设计至关重要。
大信号测试：参数分析仪还可以进行大信号测试，以评估器件在大电流和高电压条件下的性能。
数据采集与分析：自动化测试环境中，参数分析仪通常与测试机（ATE）集成，实现数据的自动采集和分析，提高测试效率和准确性。
故障分析：当半导体器件出现故障时，参数分析仪可以用于故障分析，通过测量故障器件的电参数来确定故障原因。
研发与生产：在半导体研发和生产过程中，参数分析仪是不可或缺的工具，它不仅可以用于实验室研发阶段的测试，也可以用于生产线上的快速测试。
质量控制：参数分析仪在半导体制造的质量控制环节中发挥着重要作用，通过对成品进行测试，确保只有合格的产品才能进入市场。
