阻抗测试仪的校准周期确定需要综合考虑多种因素，包括使用频繁程度、准确度要求、使用环境、使用性能等。以下是一些具体的方法和考虑因素：
校准周期的确定方法
- 统计法：根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器，统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。
- 小时时间法：确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。
- 比较法：当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期。
- 图表法：测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出最佳的校准周期。
影响校准周期的因素
- 使用频繁程度：使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。
- 测量准确度的要求：要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。
- 使用单位的维护保养能力：如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期；反之，则长一些。
- 测量仪器的性能：特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。
校准周期的调整
- 基于风险评估分析：初始校准周期的选择宜考虑但不限于以下因素：实验室所需的和评定的测量不确定度、测量设备及其组件的类型、测量设备在使用中超出预定限值（如最大允许误差）或准确度要求的风险等。
- 考虑历史校准记录：随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录。
通过上述方法，可以根据阻抗测试仪的实际使用情况，科学、合理地确定其校准周期，以确保测量结果的准确性和可靠性。
