【故障现象】
在使用半导体参数分析仪时，常见现象是：钳形表分辨率不足或磁场干扰。特别是在大功率设备场景中，该问题尤为突出。
【原因分析】
因为热像仪的发射率参数与被测材料的实际辐射特性不符。 此外，环境因素如温度漂移、老化效应、寄生参数变化也常加重此现象。
【诊断步骤】
首先查阅发射率表或使用黑胶带进行温度标定。 随后可利用示波器、万用表或信号源辅助监测关键节点，以定位故障源。
【解决方案】
最终利用黑体辐射源现场校准，修正环境温度。 在实施过程中，建议逐步调整、多次测量取平均值，确保可靠修复。
【预防措施】
建议检查共模电压并选用高CMRR仪器。 同时，掌握自动校准技术可大幅降低此类问题复发概率。建议将此流程列入维护手册。
