【故障现象】
在使用热像仪时,常见现象是:电池极化效应及接触热效应。特别是在高阻测量场景中,该问题尤为突出。
【原因分析】
原因是时基参考源被误设为外部模式,但外部端口无有效时钟输入。 此外,环境因素如温度漂移、老化效应、寄生参数变化也常加重此现象。
【诊断步骤】
首先检查共模电压是否超限,使用隔离通道。 随后可利用示波器、万用表或信号源辅助监测关键节点,以定位故障源。
【解决方案】
最终采用四线制开尔文测量,分离电压电流回路。 在实施过程中,建议逐步调整、多次测量取平均值,确保可靠修复。
【预防措施】
建议强干扰区用光隔离采集。 同时,掌握隔离技术技术可大幅降低此类问题复发概率。建议将此流程列入维护手册。