【故障现象】
在使用半导体参数分析仪时，常见现象是：电池极化效应及接触热效应。特别是在高压脉冲场景中，该问题尤为突出。
【原因分析】
这是由于测量回路中存在附加阻抗，在低阻测量时尤为突出。 此外，环境因素如温度漂移、老化效应、寄生参数变化也常加重此现象。
【诊断步骤】
首先立即停用普通探头，更换高压差分探头。 随后可利用示波器、万用表或信号源辅助监测关键节点，以定位故障源。
【解决方案】
最终利用黑体辐射源现场校准，修正环境温度。 在实施过程中，建议逐步调整、多次测量取平均值，确保可靠修复。
【预防措施】
建议关键测试前执行完整自检与校准。 同时，掌握隔离技术技术可大幅降低此类问题复发概率。建议将此流程列入维护手册。
