【故障现象】
在使用逻辑分析仪时，常见现象是：电池极化效应及接触热效应。特别是在低噪声环境场景中，该问题尤为突出。
【原因分析】
往往是被测对象内部存在潮湿或绝缘老化，导致泄漏电流急剧增大。 此外，环境因素如温度漂移、老化效应、寄生参数变化也常加重此现象。
【诊断步骤】
首先摇至额定转速再接触被测点，避免电容冲击。 随后可利用示波器、万用表或信号源辅助监测关键节点，以定位故障源。
【解决方案】
最终执行全频段TRL校准并使用稳相电缆。 在实施过程中，建议逐步调整、多次测量取平均值，确保可靠修复。
【预防措施】
建议使用高绝缘电缆并定期清洁。 同时，掌握矢量匹配技术可大幅降低此类问题复发概率。建议将此流程列入维护手册。
